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可测试性设计的繁体字

【可测试性设计】的繁体字: 可測試性設計

【可测试性设计】的读音为 kě cè shì xìng shè jì,无声调拼音为 ke ce shi xing she ji,简拼为 KCSXSJ

【可测试性设计】的笔画分别为5画、9画、8画、8画、6画、4画,部首分别为口部、氵部、讠部、忄部、讠部、讠部。

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可测试性设计的网络释义

可测试性设计(英语:Design for Testability, DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。

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